Новости

31 июля 2017 г.
      Сотрудник ИНТЭЛ представил результаты своих исследований на международной конференции в Италии.

   

   

По материалам официального сайта МИФИ

Сотрудник кафедры микро- и наноэлектроники Института нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике (ИНТЭЛ) Б.В. Гурковский представил два доклада на международной конференции 2017 IEEE Workshop on Environmental, Energy, and Structural Monitoring Systems.

Конференция прошла в Италии в Миланском государственном университете 24-25 июля 2017.

Доклады:

1. Method for Recognizing Alpha and Beta Radioactive Contamination in Portal Monitor Using Open-Air Gas-Discharge Counter

2. Microwave Dosimeters for Domestic Use